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Onto Innovation entwickelt Mess- und Metrologiesysteme, Lösungen zur Fehlerinspektion, Lithografietechnologien und Software für die intelligente Fertigung von Halbleiterherstellern. Die Technologien unterstützen die Produktion entlang des gesamten Halbleiterprozesses – von der Inspektion eingehender unbehandelter Wafer bis zur abschließenden Verpackung. Dabei erfüllen sie die Anforderungen der Herstellung von Logikchips, Foundry-Produkten, Speicherbausteinen, RF/MEMS-Komponenten, Bildsensoren, fortschrittlichen Gehäusen, LEDs und Leistungshalbleitern sowie der Sondenprüfung und Flachbildschirmen. Onto Innovation hilft Herstellern, Prozessprobleme zu erkennen, die Ausbeute zu steigern, Kosten zu senken und die Produktzuverlässigkeit zu verbessern, und unterstützt so eine schnellere Entwicklung von Produkten und Fertigungsprozessen.